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半導(dǎo)體材料科學(xué)針對半導(dǎo)體封裝測試領(lǐng)域,盈和欣(INHEXIN)提供全套的失效性分析實(shí)驗(yàn)室搭建方案,用于芯片測試環(huán)節(jié)以及總體集成封裝工藝的生產(chǎn)過程測試和產(chǎn)品失效測試。
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通用測試儀器盈和欣(INHEXIN)是一家面向國內(nèi)/外電子測量儀器、設(shè)備、檢測工具及相關(guān)器材的綜合供應(yīng)服務(wù)商。經(jīng)過多年的發(fā)展與成長,公司專業(yè)的服務(wù)、技術(shù)和銷售團(tuán)隊(duì)為您提供:儀器選型導(dǎo)購、常備應(yīng)急庫存、進(jìn)口報(bào)關(guān)、系統(tǒng)集成、信息咨詢、產(chǎn)品使用培訓(xùn)、售后維修維護(hù)、測試解決方案等服務(wù)。了解更多 >
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EMC實(shí)驗(yàn)室國家標(biāo)準(zhǔn)《電磁兼容術(shù)語》對電磁兼容的定義為:設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力。根據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn)對于產(chǎn)品的測試要求,按照業(yè)界習(xí)慣可分為兩大測試內(nèi)容,一為EMI(電磁干擾)測試,另一為EMS(電磁敏感度)測試。盈和欣(INHEXIN)為客戶電磁兼容(EMC)實(shí)驗(yàn)室提供整套專業(yè)的搭建解決方案。
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